X射線(xiàn)熒光（XRF）儀器的工作原理

X射線(xiàn)熒光(XRF)儀器的工作原理

  X射線(xiàn)熒光(XRF)儀器的工作原理是對被測樣品發(fā)射一束一次X射線(xiàn)，樣品的原子吸收X射線(xiàn)的能量后被激發(fā)并釋放出二次X射線(xiàn)。每個(gè)化學(xué)元素會(huì )釋放出特定能量的X射線(xiàn)。通過(guò)測量這些釋放出的二次X射線(xiàn)的特征能量和強度，X射線(xiàn)分析儀就能夠對被測材料的鍍層厚度和成份提供定性和定量分析。

  X射線(xiàn)熒光分析的優(yōu)點(diǎn)如下：

zui少或無(wú)需樣品制備

無(wú)損分析　

可測元素范圍廣： Ti 22 to U92

可分析固體和溶液

分析快速：幾秒內得到結果

定性、半定量和全定量分析

操作容易，只需要簡(jiǎn)單培訓

X射線(xiàn)熒光標準檢測方法、規格和操作指導通用，可提高產(chǎn)品質(zhì)量、

安全性，便于市場(chǎng)準入和貿易，增強客戶(hù)信心。

常規儀器應用如德國菲希爾x-ray鍍層測厚儀、牛津x射線(xiàn)測厚儀等。

其他測量?jì)x器引讀：鐵素體測量?jì)x、紫外線(xiàn)燈。