X射線(xiàn)熒光(XRF)儀器的工作原理
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X射線(xiàn)熒光(XRF)儀器的工作原理
X射線(xiàn)熒光(XRF)儀器的工作原理是對被測樣品發(fā)射一束一次X射線(xiàn),樣品的原子吸收X射線(xiàn)的能量后被激發(fā)并釋放出二次X射線(xiàn)。每個(gè)化學(xué)元素會(huì )釋放出特定能量的X射線(xiàn)。通過(guò)測量這些釋放出的二次X射線(xiàn)的特征能量和強度,X射線(xiàn)分析儀就能夠對被測材料的鍍層厚度和成份提供定性和定量分析。
X射線(xiàn)熒光分析的優(yōu)點(diǎn)如下:
zui少或無(wú)需樣品制備
無(wú)損分析
可測元素范圍廣: Ti 22 to U92
可分析固體和溶液
分析快速:幾秒內得到結果
定性、半定量和全定量分析
操作容易,只需要簡(jiǎn)單培訓
X射線(xiàn)熒光標準檢測方法、規格和操作指導通用,可提高產(chǎn)品質(zhì)量、
安全性,便于市場(chǎng)準入和貿易,增強客戶(hù)信心。
常規儀器應用如德國菲希爾x-ray鍍層測厚儀、牛津x射線(xiàn)測厚儀等。
其他測量?jì)x器引讀:鐵素體測量?jì)x、紫外線(xiàn)燈。